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无掩模曝光机
PermiNex™光刻胶
SU-8光刻胶轮廓修改剂
Copolymer系列光刻胶
PMMA电子束光刻胶
光刻胶- PriElex®Jettable高分子材料
gL2000电子束负性光刻胶
老化板上下料机4800
光学仪器及设备
超短脉冲激光器
新一代多功能/高分辨率成像光谱仪与单色仪
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Kuro背照式科研级CMOS探测器
SOPHIA快速低制冷温度CCD探测器
X-Ray CCD探测器系列
原子力显微镜Dimension FASTSCAN (AFM / SPM / STM))
PyLoN液氮制冷红外CCD光谱探测器
IsoPlane成像光谱仪
便携式光谱仪
制样/消解设备
气体等离子系统IoN Wave 10
等离子清洗系统PS 400, PS 400 H2
等离子清洗系统GIGA 690
等离子清洗系统GIGA 80 Plus
纳米压印机
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反应式离子蚀刻机
反应式离子蚀刻机
电子测量仪器
微波/射频信号发生器(BNC 835-3-M)
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数字脉冲延时信号发生器(BNC745新)
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自动光学检测系统(AOI) - Supra Era系列
自动光学检测系统Falcon 800
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全自动原子层沉积系统(ALD)
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恒温/加热/干燥设备
Heller -回流焊炉/垂直式固化炉
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产品系列
Akrometrix 于1994年成立,总部设于美国佐治亚洲亚特兰大。服务及合作伙伴遍及世界各地主要及发展中的微电子工业市场。全球**的平整度特性测量与分析技术先锋 Akrometrix 是提供全面性测量解决方案的***,为全球微电子工业市场的OEM(原始设备生产)、CEM (合同设备生产)、SATS (半导体合约封装与测试服务)、及 PCB (线路板生产) 工业提供先进的基板及封装测量解决方案。Akrometrix 的 TherMoiré 及LineMoiré 设备系列能够提供广泛的平整度检测特性技术,适合于产品开发及生产应用。Akrometrix是温度效应测量技术的行业先锋;在全球二十大半导体生产商中,都采用了Akrometrix 的解决方案。
新一代表面测量和分析技术
Akrometrix的**TherMoiré技术是行业**的热变形翘曲分析技术。1998年**次应用在实验室以来,当今的TherMoiré一代产品作为翘曲管理解决方案,服务于全球范围企业。研发/诊断/生产监控,无论你的客户是个体用户或是OEM,TherMoire帮助您取得**的客户满意度。随着技术的成熟,TherMoire技术可以模拟热加工工艺和操作环境条件、同时捕捉一个完整的历史翘曲位移表现。运用这一重要的信息,获得元器件/基板翘曲度的一致性(即翘曲变形规格)来直接影响一级和二级装配产量和提高产品的可靠性。
TherMoiré AXP 产品特性:
● **样品尺寸达400mmX400mm
● 在2秒内获得140万个数据点
● **每秒加热2摄氏度
● 均匀对流加热和冷却来控制温度
● 高分辨率测量小型样品
● XY轴响应和CTE计算
● 运用强力冷却系统提高实验能力
● 支持从-55至150度可靠性测试和在280度下的回流仿真
● 支持多样品同时测试,提高产量